传感器实验箱应变片的温度实验说明

一、实验目的

了解温度对应变片测试系统的影响。

二、基本原理

电阻应变片的温度影响，主要来自两个方面。敏感栅丝的温度系数，应变栅的线膨胀系数与弹性体（或被测试件）的线膨胀系数不一致会产生附加应变。因此当温度变化时，在被测体受力状态不变时，输出会有变化。

三、需用器件与单元

机头中的应变梁、振动台、加热器；主板中的F/V表、±4V电源、1.2—12V可调电源、箔式应变片输出口、加热器输出口、电桥、差动放大器；砝码。

四、实验步骤

1、 按下图接线。将F/V表量程切换开关切到20V档，检查接线无误后合上主电源

开关，调节12V可调电源输出为10V。关闭主电源。

2、 按照实验一应变片单臂电桥接线，如下图。检查接线无误后合上主电源开关，将

10只（200g）砝码放在振动台上，在F/V电压表（2V档）上读取记录数值为Uo1。

3、将主板上的加热器接口连接到1.2—12V可调电源上（已调好10V），如下图所示。

数分钟后待数显表电压显示基本稳定后，记下读数Uot ,Uot-Uo1即为温度变化的影响。计算这一温度变化产生的相对误差：

实验完毕，关闭电源。

以上为传感器实验箱应变片的温度实验说明。

同步PC版：

传感器实验箱应变片的温度实验说明http://www.gaolian.tech/display.php?id=451

推荐产品：

GL-XS-01型传感器实验箱http://www.gaolian.tech/prodisplay.php?id=70